Nanotechnologie english version
  Hlavní menu
  Odborná spolupráce




  Dopisovatelé
  Doporučujeme





 

Český metrologický institut (ČMI)
Vydáno dne 31. 08. 2007 (4870 přečtení)



Okružní 31, 638 00 Brno, IČO 00177016
www.cmi.cz

Stručná charakteristika pracoviště
ČMI je příspěvkovou organizací přímo řízenou Ministerstvem průmyslu a obchodu. Základní funkcí institutu je plnění funkcí náležejících do působnosti státní správy v oblasti metrologie svěřených ČMI zákonem č. 505/1999 Sb. v platném znění. ČMI zajišťuje služby ve všech základních oblastech metrologie: fundamentální metrologii (uchovávání státních etalonů, kalibrace etalonů a měřidel) a legální metrologii (typové schvalování měřidel, prvotní a následné ověřování měřidel, státní metrologický dozor). V souladu se střednědobou koncepcí rozvoje národního metrologického systému řeší ČMI soubor úkolů technického rozvoje, které se svým charakterem pohybují od aplikovaného výzkumu až k řešení konkrétních technických úloh. Činnost ČMI zabezpečují útvary řízené přímo generálním ředitelem (P.Klenovský), 10 oblastních inspektorátů, dvě specializovaná pracoviště – Laboratoře primární metrologie a Inspektorát pro ionizující záření a 4 přidružené laboratoře v různých institucích. Činnost související s nanotechnologiemi se provádí zejména v Oddělení technické délky (V.Zelený), Oddělení kvantové metrologie délky a laserů (P.Balling), Laboratoří primární metrologie v Praze (M.Bartoš) a v Laboratoři moderní metrologie v Brně (P.Klapetek).

Zaměření výzkumu a vývoje.
V ČMI se přesně měří rozměry v oboru mikronů a nanometrů, stanovuje se povrchová topografie (na ATM), provádí bodová spektroskopie, měří se magnetické vlastnosti atd. a v těchto oblastech se provádí výzkum nových metod měření. ČMI se účastní činnosti Evropského virtuálního ústavu pro geometrická měření (EVIGeM) v rámci řešení projektu 5. Rámcového programu EU (Growth), kde se řeší mj. problematika „Povrchy a nanotechnologie“.

Experti/obor.
Ing. Vít Zelený CSc. – měření délek
Mgr. Petr Klapetek,PhD. – mikroskopie atomové síly a příbuzné metody


Zpět


Celá tisková zpráva | Informační e-mail Vytisknout článek

  Přečtěte si
Průvodce systémem veřejné podpory výzkumu a vývoje v ČR 2010.bmp

Skripta Nanotechnologie-p.Hosek

Průvodce 2009

Nanotechnologie2008

Mikroskopie skenující sondou

Inovace pro zítřejší svět

Strategie

Nanotechnologie

Bionanotechnologie

Konvergující technologie

Ekonomický rozvoj nanotechnologie


Další informace: Reklama Provozní podmínky Napište nám    Správce: © 2007 TANGER computersystems s.r.o.